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產 地：日本更新時間：2020-10-20 14:11
品 牌：JEOL型 號：JEM-2100F
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1.高亮度場發射電子槍。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式側插測角臺，更容易傾轉、旋轉、加熱和冷凍，無機械飄移。 4.穩定性好、操作簡便。 5.微處理器和PC兩套系統控制，防止死機。
1.點分辨率：0.19nm 2.線分辨率：0.14nm 3.加速電壓：80, 100, 120, 160, 200kV 4.傾斜角：25 5.STEM分辨率：0.20nm
JEM-2100F 應用廣泛，從材料科學、生命科學、醫療、制藥、半導體到納米技術。 利用200kV場發射透射電鏡JEM-2100F，不僅可實現超高分辨率圖像的觀察，同時，還可以得到納米尺度的結構、成分等信息。 高亮度的場發射電子槍，輕松實現各種分析功能。 JEM-2100F***新設計的側插式側角臺，在傾斜、旋轉、加熱、制冷時都不會造成機械飄移。 SJEM-2100F可與TEM, MDS, EDS, EELS, and CCD-camera實現***體化控制。
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