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產品特點：
SIS模式——***適合高起伏樣品，減少探針磨損
測定更準確——閉環掃描器
操作更簡單——測定導航功能
分析更方便——多點自動測定，自動解析功能

產品介紹:
1.可輕松的完成以往難以測定的高側面比深槽的樣品的測定
        搭載本公司獨自開發SIS模式、可以實現對以前很難測定的，開口很小的(50nm以下)樣品和測面比高的樣品等深槽和狹小槽的測定。如運用SIS模式和納米碳管探針，其威力更是倍增。
        閉環掃描器，徹底消除由滯后及蠕變現象造成的成像失真現象、大大提高了微區測量·微區加工的精度。做為標準配置，L-trace搭載了這種環狀掃描器。做為選項配置，閉環掃描器也可用于其它的機種。
2.搭載測定導向功能，大大提高了操作的簡便性
        搭載探針自動切換功能，降低由于誤操作而引起的探針損壞機率，提高操作效率。
        精工納米電子科技公司獨自開發的操作導向系統，從設備準備到數據的保存印刷，準確地指導操作者完成各項操作。即使第***次上機操作，也可以輕松得進行測定。
3.豐富的自動測定功能
        依據菜單測定功能，可以實現掃描范圍內的多點自動測定。
        常規的測定、重復的測定條件、繁瑣的測定等，從顏色的調整到繪圖的處理、解析、印刷都可簡單得自動處理。
        優化的解析系統軟件，特別是對要求高速多功能同時測定解析的畫像，搭載了新的重疊解析功能和表示設定功能、使多彩的功能性及簡易操作性得以完美的結合。