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掃描探針顯微鏡(SPM)/原子力顯微鏡
高精度大樣品臺(tái)掃描探針顯微鏡L-trace
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:日本更新時(shí)間:2020-10-20 13:44
品 牌:SII型 號(hào):L-trace
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:1406
400-006-7520
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聯(lián) 系 人:
上海非利加實(shí)業(yè)有限公司
電 話:
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配送方式:
上海自提或三方快遞
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特點(diǎn)
1.滯后、蠕變影響小的閉環(huán)掃描器搭載。測(cè)定部分的移動(dòng)或是掃描方向的旋轉(zhuǎn)之后,也可以得到正確的畫像。
2.新功能SIS模式配合鈉米碳管探針,能夠正確的測(cè)定以往不易測(cè)定的急、陡斷面的樣品。
3.標(biāo)準(zhǔn)裝配6英寸大型樣品臺(tái),可對(duì)150mmφ的樣品全面的觀察。(200mmφ樣品臺(tái)為可選)
4.搭載探針自動(dòng)更換功能,測(cè)定導(dǎo)向功能。
5.登錄模式可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)定,可設(shè)定***大20個(gè)測(cè)定點(diǎn)及各自測(cè)定條件下的自動(dòng)測(cè)定。***適合重復(fù)的測(cè)定。
產(chǎn)品參數(shù)
檢測(cè)系統(tǒng)光杠桿式掃描系統(tǒng)搭載閉環(huán)掃描器分辨率·面內(nèi):0.5nm·垂直:0.05nm樣品尺寸150mmφ(200mmφ可選)樣品移動(dòng)機(jī)構(gòu)高精度電動(dòng)XY樣品臺(tái)掃描范圍SIS(Sampling Intelligent Scan)模式適用其它·探針狀態(tài)評(píng)價(jià)功能·探針自動(dòng)切換功能
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產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品介紹:
滯后、蠕變影響小的閉環(huán)掃描器搭載。配合新功能SIS掃描模式及鈉米碳管探針,即使是高段差的樣品也可以準(zhǔn)確的測(cè)定。標(biāo)準(zhǔn)配置的6英寸的大型樣品臺(tái)(8英寸樣品臺(tái)可選)。