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1、 工業***攝像頭高速采集，光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，專用軟件進行顆粒數據處理。
2、 提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。
3、 對采集的圖像進行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網格標注顆粒尺寸等功能，使測試結果更真實可靠。
4、 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。

1、測量范圍：0.5μm～3000μm
2、全平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學放大倍數1600倍，打印最大倍數4000倍(A4幅面)

JX-2000顆粒形貌分析儀，該系統由光學顯微鏡、USB攝像機、圖像分析軟件、電腦、打印機等部分組成。能準確的進行顆粒形貌分析，并進行顆粒數據處理，測試顆粒粒度分布，適用于控制分析產品質量。

儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，JX-2000A顆粒形貌分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B顆粒形貌分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。