X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT9200M型
價 格：詢價
產 地：日本更新時間：2020-11-19 10:47
品 牌：SII型 號：SFT9200M型
狀 態：正常點擊量：1994
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上海自提或三方快遞
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特點
·是SFT3000系列的后續機型。
·依據照明，可以看到以前觀察困難的樣品。
·搭載了防止有凹凸的樣品碰撞的傳感器。
·運用激光聚焦功能簡單實現位置的調整。
·微小領域的觀察也很容易。搭載了能4階段切換的可變焦距透鏡。（任選）
·搭載了焦點切換功能，能夠對有高度的樣品的低部分進行測定。（任選）
產品參數
| 型號SFT9200系列射線源空冷式小型X射線管準直器型 0.2 x0.05mm、0.05 x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ樣品觀察CCD照相機過濾器Co:自動切換樣品平臺移動量: 220（X）x 150（Y）x 150（Z）mmX-ray Station電腦（Windows2000?）17英寸CRT
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產品介紹
產品介紹:
運用熒光X射線測定鍍膜厚度。本公司的SFT系列膜厚測量儀被稱作標準的機器。有小型零部件用的SFT9200和大型打印基板用的SFT9255。裝備著防止樣品和設備構造不***致的功能。
滬公網安備31011502016460號
