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現(xiàn)在位置：首頁(yè)>光學(xué)儀器>電子顯微鏡> 掃描探針顯微鏡（SPM）

商品編號(hào)：70964

電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡

價(jià) 格：詢價(jià)

產(chǎn) 地：更新時(shí)間：2021-01-18 15:11

品牌：型號(hào)：PSM

狀態(tài)：正常點(diǎn)擊量：1392

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電導(dǎo)率-塞貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡

儀器簡(jiǎn)介：

電導(dǎo)率-賽貝克系數(shù)掃描探針顯微鏡技術(shù)由德*** Panco 公司和德***宇航中心公共研制開發(fā)，可以測(cè)量樣品的電導(dǎo)率和賽貝克系統(tǒng)的空間分布狀況，是研究熱電材料的*新利器。

技術(shù)參數(shù)：

位置單向定位精度：1 μm

位置雙向定位精度：3 μm

掃描區(qū)域：150 mm x 50 mm
局部測(cè)量精度：10 μm(與該區(qū)域的熱傳導(dǎo)有關(guān))
信號(hào)測(cè)量精度：100 nV

測(cè)量結(jié)果重復(fù)性：優(yōu)于3%
誤差
塞貝克系數(shù)：< 3% (半導(dǎo)體)
< 5% (金屬)
電導(dǎo)率：< 5% (半導(dǎo)體)
< 8% (金屬)
測(cè)量速度：測(cè)量***個(gè)點(diǎn)的時(shí)間小于4秒

主要特點(diǎn)：

應(yīng)用領(lǐng)域
1、熱電材料，超導(dǎo)材料，燃料電池，導(dǎo)電陶瓷以及半導(dǎo)體材料的均勻度測(cè)量
2、測(cè)量功能梯度材料的梯度
3、觀察功能梯度材料的梯度效應(yīng)
4、監(jiān)測(cè) NTC/PTC 材料的電阻漂移
5、導(dǎo)電固體中的傳導(dǎo)損耗
6、陰極材料的電導(dǎo)率損耗
7、GMR 材料峰值溫度的降低，電阻率的變化
8、樣品的質(zhì)量監(jiān)控

系統(tǒng)組成部分
1、三矢量軸定位平臺(tái)及其控制器
2、熱量克測(cè)量的測(cè)溫探針
3、接觸探測(cè)系統(tǒng)
4、模擬多路器
5、數(shù)字電壓表
6、鎖相放大器
7、攝像探頭
8、帶有專用控制軟件和 GPIB 總線的計(jì)算機(jī)
9、樣品架